Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Исследовательский комплекс NtegraPrima для атомно-силовой микроскопии
Нанолаборатория, созданная для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предназначенная для получения изображений поверхности с высоким пространственным разрешением, измерения линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердых тел с разным типом проводимости, наноструктур и биологических объектов, а также для диагностики локальных физических свойств.
Загрузка прибора (%):
50
Загрузка прибора по дням (не менять):
2020/11/26,2020/12/01,2020/12/03,2020/12/04,2020/12/08,2020/12/16,2020/12/17,2020/12/18,2020/12/21,2020/12/22,2020/12/25,2020/12/30,2021/01/04,2021/01/07,2021/01/08,2021/01/13,2021/01/14,2021/01/15,2021/01/18,2021/01/20,2021/01/21,2021/01/25,2021/01/27,2021/01/29,2021/02/02,2021/02/03,2021/02/04,2021/02/05,2021/02/09,2021/02/10,2021/02/11,2021/02/12,2021/02/16,2021/02/17,2021/02/18,2021/02/24,2021/02/25
Пример исследования:
АСМ-запись регулярных доменных структур на тонких монокристаллических пленках ниобата лития и их визуализация в режиме микроскопии пьезоотклика
Технические характеристики:
|
Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY
|
0,001-80 мкм
|
|
Диапазон измерения линейных размеров в Z направлении
|
10 мкм
|
|
Нелинейность в плоскости XY
|
0,66 %
|
|
Неортогональность в Z направлении
|
0,37 градуса
|
|
Разрешение в плоскости XY
|
0,014 нм
|
|
Реально-контролируемая разрешающая способность в плоскости XY
|
2 нм
|
|
Разрешение по оси Z
|
0,118 нм
|
Дополнительные фото:
Загрузить / Загрузить / Загрузить